任锁效应

应该是闭锁效应。

闭锁效应是某些器件或集成电路中发生像晶闸管那样的栅极能够控制导通、但是不能控制关断的一种现象，是造成IC失效的一种重要原因。

晶闸管的结构是p-n-p-n，它可看成是由两个BJT共用一个基区而组合起来的一种器件。它的栅极（控制极）电压可以触发晶闸管导通，但是栅极电压不能使晶闸管关断。对于器件 或者集成电路而言，如果其中存在有p-n-p-n这种晶闸管结构，只要有某些不定因素的触发, 使得p-n-p-n结构出现正向导通时，即产生很大的电流，并且再也不能自己关断，而这时若电源能提供足够大的电流，从而就将引起器件失效。这种现象就称为闭锁效应。